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    New insight on the frequency dependence of TDDB in high-k/metal gate stacks
    Bezza, A. ; Rafik, M. ; et al.
    In: 2013 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2013-10-01, S. 11-14
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Circuit relevant well charging from metal antenna and its degradation on digital MOS transistor reliability
    Martin, Andreas
    In: 2013 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2013-10-01, S. 50-53
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?

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