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    ODLPIM: A Write-Optimized and Long-Lifetime ReRAM-Based Accelerator for Online Deep Learning
    Zhou, Heng ; Wu, Bing ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    FSL-HD: Accelerating Few-Shot Learning on ReRAM using Hyperdimensional Computing
    Xu, Weihong ; Kang, Jaeyoung ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    MA-Opt: Reinforcement Learning-based Analog Circuit Optimization using Multi-Actors
    Choi, Youngchang ; Choi, Minjeong ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
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    Brain-Inspired Spatiotemporal Processing Algorithms for Efficient Event-Based Perception
    Chakraborty, Biswadeep ; Kamal, Uday ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    A Speed- and Energy-Driven Holistic Training Framework for Sparse CNN Accelerators
    Qu, Yuanchen ; Ma, Yu ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    RL-Legalizer: Reinforcement Learning-based Cell Priority Optimization in Mixed-Height Standard Cell Legalization
    Lee, Sung-Yun ; Park, Seonghyeon ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    TBERT: Dynamic BERT Inference with Top-k Based Predictors
    Liu, Zejian ; Zhao, Kun ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Improving Reliability of Spiking Neural Networks through Fault Aware Threshold Voltage Optimization
    Siddique, Ayesha ; Hoque, Khaza Anuarul
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    HD-I-IoT: Hyperdimensional Computing for Resilient Industrial Internet of Things Analytics
    Gungor, Onat ; Rosing, Tajana ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Pipe-BD: Pipelined Parallel Blockwise Distillation
    Jang, Hongsun ; Jung, Jaewon ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Chameleon: Dual Memory Replay for Online Continual Learning on Edge Devices
    Aggarwal, Shivam ; Binici, Kuluhan ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    The FORA European Training Network on Fog Computing for Robotics and Industrial Automation
    Barzegaran, Mohammadreza ; Pop, Paul
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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    CorrectNet: Robustness Enhancement of Analog In-Memory Computing for Neural Networks by Error Suppression and Compensation
    Eldebiky, Amro ; Zhang, Grace Li ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Efficient Hyperdimensional Learning with Trainable, Quantizable, and Holistic Data Representation
    Kim, Jiseung ; Lee, Hyunsei ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Scalable Spintronics-based Bayesian Neural Network for Uncertainty Estimation
    Ahmed, Soyed Tuhin ; Danouchi, Kamal ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    PECAN: A Product-Quantized Content Addressable Memory Network
    Ran, Jie ; Lin, Rui ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    ESRU: Extremely Low-Bit and Hardware-Efficient Stochastic Rounding Unit Design for Low-Bit DNN Training
    Chang, Sung-En ; Yuan, Geng ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Energy-efficient Hardware Acceleration of Shallow Machine Learning Applications
    Zeng, Ziqing ; Sapatnekar, Sachin S.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Token Adaptive Vision Transformer with Efficient Deployment for Fine-Grained Image Recognition
    Lee, Chonghan ; Brufau, Rita Brugarolas ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Dynamic Task Remapping for Reliable CNN Training on ReRAM Crossbars
    Tung, Chung-Hsuan ; Joardar, Biresh Kumar ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
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