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    A Dynamic Reusable Structure of I/O Pads for Scan Chains
    Peng, Minqiang ; Ouyang, Keqing ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    A Study on SADP Film Stack Selection for Line Roughness Improvement in Planar 1Xnm NAND Flash
    Ma, Yinan ; Wang, Jun ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Substrate Current Improvement and Investigation in Low Voltage Power Ldmos with A Novel Design
    Xu, Zhaozhao ; Tian, Tian ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Hot-Carrier-Induced Degradations and Optimizations for Lateral DMOS Transistor with Shallow Trench Isolation and Step Oxide Improvement
    Liuo, Zhibo ; Chen, Tian ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Mechanism Research and Improvement of AL Scratch Defect Based on MG CMP
    Duan, Qingqing ; Li, Hu ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Sample Preparation Method for In-Situ Tem Analysis in Integrated Circuits
    Ye, Guoyang ; Chen, Xianfeng ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Exploring the Effect of Gate Oxide Process on Electrical Performance of CMOS Device
    Hu, Yongkang ; Teng, Qiao ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-4
    Online Konferenz
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    New Insight into Impacts from Read Cycle Number and Voltage Sweeping Direction on Memory Window of Ferroelectric Fet
    Su, Chang ; Fu, Zhiyuan ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Potential Confusion in the Analysis of the Current-Voltage Characteristics of High-K Dielectric on Lightly Doped P-Type Silicon MIS Capacitors
    Lau, W.S.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Research on Integrated Trench Etching for Trench-Type Power MOSFET
    Shen, Jingru ; Zhang, Yancai ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Structure Optimization of 4X NM Nor Flash for Improving Cell Performance
    Ma, Jiayu ; Wang, Lu ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Comparison of Simulation and Test Results of Multi-Type Ring Oscillators on Advanced Process Nodes
    Chen, Kuili ; Wang, Jian ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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    A Study on Floating Gate Profile Control and Reliability Improvement in Planar 1XNM Nand Flash
    Wang, Jun ; Liu, Lifeng ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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    Reliability Challenges in SIC Components – Performing Dynamic Test Methodologies Like DGS for Meaningful Measurement Results
    Heidemann, Frank ; Gebhardt, Mathias ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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    Yield Improvement in 4X Node Technology ETOX NOR Flash by Optimizing Control Gate Related Process and Design
    Du, Yihang ; Gu, Lin ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Experimental Investigation on the Back-Gate Modulation of Extra-Thin Body Pmosfets
    Su, Rui ; Li, Jun ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Study on 28NM Technology Node ILD0-CMP Micro_Scratch Defect Reduction
    Ma, Xing ; Wang, Kailin ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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    Interface Treatment of Epitaxial SI FINFET Channel in Replace Metal Gate with Simultaneously Performance Improvement and Leakage Reduction
    Jiang, Renjie ; Cao, Lei ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    SMT Optimization of PMOSFET Based on Multi-Deposition and In-Situ N2 Plasma Treatment
    Zheng, Longyue ; Deng, Liangyao ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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    α-In2Se3/MoTe2 Heterojunction for P-Type Junction Field-Effect Transistors with Ferroelectric Memory Characteristics
    Zhang, Tianjiao ; Zhao, Yuda
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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