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    A Novel Test Generation Methodology for Adaptive Diagnosis
    Adapa, Rajsekhar ; Flanigan, Edward ; et al.
    In: 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008), 2008-03-01, S. 242
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Timing-Aware Multiple-Delay-Fault Diagnosis
    Mehta, Vishal J. ; Marek-Sadowska, Malgorzata ; et al.
    In: 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008), 2008-03-01, S. 246
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Automated Standard Cell Library Analysis for Improved Defect Modeling
    Brown, Jason G. ; Blanton, R.D.
    In: 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008), 2008-03-01, S. 643
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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