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    Homogeneity Test for Two Negative Binomial Populations.
    Anderson, Dwane E. ; Boullion, Thomas L.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-21 (1972-01-02), Heft 2, S. 105-111
    Online academicJournal
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    Extended tables for the moments of gamma-distribution order statistics.
    Balasooriya, U. ; Hapuarachchi, K.P.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 41 (1992-01-02), Heft 2, S. 256-271
    Online academicJournal
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    Table of Contents.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-12-01), Heft 4, S. C1- (1629S.)
    Online academicJournal
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    Joint Optimization of Jobs Sequence and Inspection Policy for a Single System With Two-Stage Failure Process.
    Taghipour, Sharareh ; Azimpoor, Samareh
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-03-01), Heft 1, S. 156-169
    Online academicJournal
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    An Analysis on the Reliability of the Alternating Group Graph.
    Lin, Limei ; Huang, Yanze ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 70 (2021-12-01), Heft 4, S. 1542-1555
    Online academicJournal
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    A Method for the Statistical Evaluation of Small Subsystem Performance.
    Decker, F. R. ; Welling, A. J.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-12 (1963-03-02), Heft 2, S. 15-21
    Online academicJournal
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    Toward Better Summarizing Bug Reports With Crowdsourcing Elicited Attributes.
    Jiang, He ; Li, Xiaochen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 2-22
    Online academicJournal
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    Best linear unbiased estimator of the Rayleigh scale parameter based on fairly large censored samples.
    Adatia, A.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 44 (1995-01-02), Heft 2, S. 302-309
    Online academicJournal
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    Bayes analysis for fault location in distributed systems.
    Yu Lo Cyrus Chang ; Lander, L.C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 43 (1994-01-03), Heft 3, S. 457-466
    Online academicJournal
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    The Reliability Analysis Based on Subsystems of $(n,k)$ -Star Graph.
    Li, Xiaowang ; Zhou, Shuming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-12-01), Heft 4, S. 1700-1709
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    1968 Index IEEE Transactions on Reliability Vol. R-17.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-17 (1968-01-04), Heft 4, S. 205-208
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    One-Order-Statistic Estimation of the Scale Parameters of Weibull Populations.
    Moore, A. H. ; Harter, H. L.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-14 (1965-01-02), Heft 2, S. 100-106
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Study on Effects of Copper Wrap Specifications on Printed Circuit Board Reliability.
    Sood, Bhanu ; Shue, John ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 248-266
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    RTPDroid: Detecting Implicitly Malicious Behaviors Under Runtime Permission Model.
    Zhang, Jie ; Tian, Cong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 70 (2021-09-01), Heft 3, S. 1295-1308
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Complete Fault Tolerant Method for Extra Fault Diagnosability of Alternating Group Graphs.
    Lin, Limei ; Huang, Yanze ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 70 (2021-09-01), Heft 3, S. 957-969
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Extended Optimal Replacement Policy for a Two-Unit System With Shock Damage Interaction.
    Sheu, Shey-Huei ; Liu, Tzu-Hsin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 64 (2015-09-01), Heft 3, S. 998-1014
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Redundancy allocation to maximize a lower percentile of the system time-to-failure distribution.
    Coit, David W. ; Smith, Alice E.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 47 (1998-03-01), Heft 1, S. 79-88
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Perspective on Weibull proportional-hazards models.
    Newby, M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 43 (1994-01-02), Heft 2, S. 217-223
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    S.ESCAF: Sequential Complex Systems are Analysed with ESCAF through an Add-on Option.
    Laviron, A. ; Blin, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-34 (1985-01-03), Heft 3, S. 229-232
    Online academicJournal
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    Linear Estimation of the Parameters of the Extreme-Value Distribution Based on Suitably Chosen Order Statistics.
    Chan, Lai K. ; Mead, E. R.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. R-20 (1971-01-02), Heft 2, S. 74-83
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