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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    The development of the precise standard cell that can be upset down
    Hu Yan Rui
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 25-26
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The need and use of intrinsic standards in U.S. industry
    Jaeger, K.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 43-44
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A compact transportable Josephson voltage standard
    Kupferman, S.L. ; Hamilton, C.A. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 146-147
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Proposed tests to evaluate the frequency-dependent capacitor ratio for single electron tunneling experiment
    Avramov-Zamurovic, S.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 265-266
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    New multisize inductance reference standards
    Egorov, P.M.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 404-405
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Capacitance scaling system
    Aoki, T. ; Yokoi, K.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 386-387
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Precision resistor of reduced dynamic error
    Szepessy, Z.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 398-399
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Improvements in the NRC ac-dc transfer capabilities
    Clark, R.F. ; Filipski, P.S. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 580-581
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    AC-DC difference of millivolt thermal standards
    Huang, De-Xiang
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 578-579
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    High-current thin film multijunction thermal converters and multi-converter modules
    Kinard, J.R. ; Lipe, T.E. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 594-595
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Primary standards for antenna factor calibration in the frequency range of 30-1000 MHz
    Garn, H.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 203-203
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A simple automatic system for calibration of inductive voltage dividers
    Saxena, A.K. ; Saleem, M.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 412-412
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Cryocooled primary voltage standard system
    Tang, Yi-hua ; Hunt, R.T. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?

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