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    Precise laser spectroscopy of hydrogen and singly-ionized helium
    Berkeland, D.J. ; Hinds, E.A. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 172-173
    Online Konferenz
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    High resolution spectroscopy of the hydrogen atom
    Bourzeix, S. ; deBeauvoir, B. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 174-175
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Preliminary results on the analog-to-digital converter based on RSFQ logic
    Semenov, V. ; Polyakov, Y. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 1
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A system assuring the measurement uniformity of spectrum and form parameters of high frequency signals in the Ukraine
    Pavlenko, Y.F.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 287-289
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Grounding resistance measuring instrument controlled by a microcomputer and a bias magnetic regulator
    Maotang, Li
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 18-19
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The development of the precise standard cell that can be upset down
    Hu Yan Rui
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 25-26
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The need and use of intrinsic standards in U.S. industry
    Jaeger, K.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 43-44
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Calibration of multifunctional and multirange measuring instruments-the method of functional blocks for choosing optimal calibration points
    Horsky, J. ; Horsky, P.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 47-48
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    New cell of precision microwave dielectric substrates testing
    Yushchenko, A.G. ; Chizhov, V.V.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 74-75
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Studies of hyperfine structure in molecular iodine
    Picard, S. ; Razet, A.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 98-99
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A compact transportable Josephson voltage standard
    Kupferman, S.L. ; Hamilton, C.A. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 146-147
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Quantization test of a Hall device by ac measurements of the longitudinal resistance
    Cabiati, F. ; Capra, P.P. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 255-256
    Online Konferenz
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    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Experimental study of quantum current standard at ETL
    Fukushima, A. ; Iwasa, A. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 257-258
    Online Konferenz
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    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Proposed tests to evaluate the frequency-dependent capacitor ratio for single electron tunneling experiment
    Avramov-Zamurovic, S.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 265-266
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Velocity distributions from the Fourier transforms of Ramsey line shapes
    Shirley, J.H.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 275-276
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Conversion of a 2-terminal-pair bridge to a 4-terminal-pair bridge for increased range and precision in impedance measurements
    Jeffery, A. ; Shields, J.Q. ; et al.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 358-359
    Online Konferenz
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    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    New multisize inductance reference standards
    Egorov, P.M.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 404-405
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Capacitance scaling system
    Aoki, T. ; Yokoi, K.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 386-387
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Wide band horn (ridged horn) calibration by the three antenna method
    Matsui, T. ; Kagatsuka, A.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 425-426
    Online Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Absolute determination of loss angle
    Eklund, G.
    In: Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, S. 390-391
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?

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