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  1. Madanagopal, K.V. ; Tien, N.C.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1204-1207
    Online Konferenz
  2. Cristaldi, L. ; Ferrero, A. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1220-1225
    Online Konferenz
  3. Jovanovic, L.D.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1308-1312
    Online Konferenz
  4. Lowe, A.M. ; Eren, H. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1286-1291
    Online Konferenz
  5. Garza, F.J. ; Das, M.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1534-1539
    Online Konferenz
  6. Larson, D.R. ; Paulter, N.G., Jr.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1425-1428
    Online Konferenz
  7. Sankaran, P. ; Kumar, V.J. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1414-1419
    Online Konferenz
  8. Ford, R.M. ; Weissbach, R.S. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1448-1452
    Online Konferenz
  9. Mochizuka, H. ; Kusumi, S. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1529-1533
    Online Konferenz
  10. Eren, H. ; Chun Che Fung
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1500-1505
    Online Konferenz
  11. Waltrip, B.C. ; Laug, O.B. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1518-1522
    Online Konferenz
  12. Smith, S.C. ; Devaney, M.J.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 30-35
    Online Konferenz
  13. Fock, B.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 46-50
    Online Konferenz
  14. Parvis, M. ; Vallan, A.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 36-40
    Online Konferenz
  15. Cole, A. ; Albicki, A.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 24-29
    Online Konferenz
  16. Kusmierek, Z. ; Korczynski, M.J.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 41-45
    Online Konferenz
  17. Moreira, C.S. ; Freire, R.C.S. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 174-178
    Online Konferenz
  18. Castelli, F.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 164-168
    Online Konferenz
  19. Wu, Han-Chang ; Young, Shuenn-Tsung ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 180-185
    Online Konferenz
  20. Michalski, A. ; Piotrowski, W.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 1 (2000), S. 318-321
    Online Konferenz

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