Zum Hauptinhalt springen
Hochschulbibliothek der Hochschule Düsseldorf

Suchergebnisse

Katalog

Mehr
131 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Sprache

Geographischer Bezug

Inhaltsanbieter

131 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Blocked Designs for Experiments With Correlated Non-Normal Response.
    Woods, David C. ; van de Ven, Peter
    In: Technometrics, Jg. 53 (2011-05-01), Heft 2, S. 173-182
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    A Note on Two-Sided Cusums for a Normal Mean.
    Uys, Nadia ; Lombard, Fred
    In: Technometrics, Jg. 49 (2007-05-01), Heft 2, S. 195-198
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Functional Outlier Detection for Density-Valued Data with Application to Robustify Distribution-to-Distribution Regression.
    Lei, Xinyi ; Chen, Zhicheng ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 65 (2023-08-01), Heft 3, S. 351-362
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Self-Starting Multivariate Exponentially Weighted Moving Average Control Charting.
    Hawkins, Douglas M. ; Maboudou-Tchao, Edgard M.
    In: Technometrics, Jg. 49 (2007-05-01), Heft 2, S. 199-209
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Statistical Process Control for Shifts in Mean or Variance Using a Changepoint Formulation.
    Hawkins, Douglas M. ; Zamba, K. D.
    In: Technometrics, Jg. 47 (2005-05-01), Heft 2, S. 164-173
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Explanatory Model Analysis: Explore, Explain and Examine Predictive Models,: by Przemyslaw Biecek, Tomasz Burzykowski, Boca Raton, FL, Chapman and Hall/CRC, Taylor & Francis Group, 2021, xiii + 311 pp., $79.96 (hbk), ISBN 978-0-367-13559-1.
    Lipovetsky, Stan
    In: Technometrics, Jg. 64 (2022-08-01), Heft 3, S. 423-424
    review
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Outlier Detection in Functional Observations With Applications to Profile Monitoring.
    Yu, Guan ; Zou, Changliang ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 54 (2012-08-01), Heft 3, S. 308-318
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Multivariate Exponentially Weighted Moving Covariance Matrix.
    Hawkins, Douglas M. ; Maboudou-Tchao, Edgard M.
    In: Technometrics, Jg. 50 (2008-05-01), Heft 2, S. 155-166
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Graphical Tools for Quadratic Discriminant Analysis.
    Pardoe, Lain ; Yin, Xiangrong ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 49 (2007-05-01), Heft 2, S. 172-183
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Multidimensional Penalized Signal Regression.
    Marx, Brian D. ; Eilers, Paul H. C.
    In: Technometrics, Jg. 47 (2005-02-01), Heft 1, S. 13-22
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Ridge Regularization: An Essential Concept in Data Science.
    Hastie, Trevor
    In: Technometrics, Jg. 62 (2020-11-01), Heft 4, S. 426-433
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Editor's Report.
    Chipman, Hugh A.
    In: Technometrics, Jg. 53 (2011-11-01), Heft 4, S. 336-338
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Editor's Report.
    Sitter, Randy R.
    In: Technometrics, Jg. 48 (2006-11-01), Heft 4, S. 455-457
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    An Ordered Lasso and Sparse Time-Lagged Regression.
    Tibshirani, Robert ; Suo, Xiaotong
    In: Technometrics, Jg. 58 (2016-11-01), Heft 4, S. 415-423
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Statistical Learning of Neuronal Functional Connectivity.
    Zhang, Chunming ; Chai, Yi ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 58 (2016-08-01), Heft 3, S. 350-359
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Statistical and Machine-Learning Data Mining: Techniques for Better Predictive Modeling and Analysis of Big Data: 3rd Edition, by Bruce Ratner. Chapman and Hall/CRC, Taylor & Francis Group, Boca Raton, FL, 2020; ISBN 978-0-367-57360-7; xxxiii + 655 pp., $54.95 (pbk)
    Lipovetsky, Stan
    In: Technometrics, Jg. 64 (2022-02-01), Heft 1, S. 145-148
    review
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Bridge Designs for Modeling Systems With Low Noise.
    Jones, Bradley ; Silvestrini, Rachel T. ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 57 (2015-05-01), Heft 2, S. 155-163
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Statistical Methods for Degradation Data With Dynamic Covariates Information and an Application to Outdoor Weathering Data.
    Hong, Yili ; Duan, Yuanyuan ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 57 (2015-05-01), Heft 2, S. 180-193
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Statistical Methods for Estimating the Minimum Thickness Along a Pipeline.
    Liu, Shiyao ; Meeker, William Q.
    In: Technometrics, Jg. 57 (2015-05-01), Heft 2, S. 164-179
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Robust Sparse Principal Component Analysis.
    Croux, Christophe ; Filzmoser, Peter ; et al.
    In: Technometrics, Jg. 55 (2013-05-01), Heft 2, S. 202-214
    academicJournal
    Wie komme ich dran?

Weitere Bibliothekskataloge

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -