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    Capture the Feature Flag: Detecting Feature Flags in Open-Source
    Meinicke, Jens ; Hoyos, Juan ; et al.
    In: 2020 IEEE/ACM 17th International Conference on Mining Software Repositories (MSR), 2020-05-01, S. 169-173
    Online Konferenz
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    Using Others' Tests to Identify Breaking Updates
    Mujahid, Suhaib ; Abdalkareem, Rabe ; et al.
    In: 2020 IEEE/ACM 17th International Conference on Mining Software Repositories (MSR), 2020-05-01, S. 466-476
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    TestRoutes: A Manually Curated Method Level Dataset for Test-to-Code Traceability
    Kicsi, Andras ; Vidacs, Laszlo ; et al.
    In: 2020 IEEE/ACM 17th International Conference on Mining Software Repositories (MSR), 2020-05-01, S. 593-597
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An Automatic Grading System for a High School-level Computational Thinking Course
    Tisha, Sirazum Munira ; Oregon, Rufino A. ; et al.
    In: 2022 IEEE/ACM 4th International Workshop on Software Engineering Education for the Next Generation (SEENG), 2022-05-01, S. 20-27
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Anonymizing Test Data in Android: Does It Hurt?
    Masserini, Elena ; Ginelli, Davide ; et al.
    In: 2024 IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST), 2024-04-15, S. 88-98
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Multitest:Physical-Aware Object Insertion for Testing Multi-Sensor Fusion Perception Systems
    Gao, Xinyu ; Wang, Zhijie ; et al.
    In: 2024 IEEE/ACM 46th International Conference on Software Engineering (ICSE), 2024-04-14, S. 1710-1722
    Online Konferenz
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    Volltext
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    S3C: Spatial Semantic Scene Coverage for Autonomous Vehicles
    Woodlief, Trey ; Toledo, Felipe ; et al.
    In: 2024 IEEE/ACM 46th International Conference on Software Engineering (ICSE), 2024-04-14, S. 1736-1748
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Generalized Channel Router
    Hightower, D.W. ; Boyd, R.L.
    In: 17th Design Automation Conference, 1980, S. 12-21
    Online Konferenz
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    Volltext
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    SLIM--The Translation of Symbolic Layouts into Mask Data
    Dunlop, A.E.
    In: 17th Design Automation Conference, 1980, S. 595-602
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Detecting and Mitigating Data-Dependent DRAM Failures by Exploiting Current Memory Content
    Khan, Samira ; Wilkerson, Chris ; et al.
    In: 2017 50th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO), 2017-10-01, S. 27-40
    Online Konferenz
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    Defect Prediction on a Legacy Industrial Software: A Case Study on Software with Few Defects
    Koroglu, Yavuz ; Sen, Alper ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM 4th International Workshop on Conducting Empirical Studies in Industry (CESI), 2016-05-01, S. 14-20
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    How to Catch 'Em All: WatchDog, a Family of IDE Plug-Ins to Assess Testing
    Beller, Moritz ; Levaja, Igor ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM 3rd International Workshop on Software Engineering Research and Industrial Practice (SER&IP), 2016-05-01, S. 53-56
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    TestMEReq: Generating Abstract Tests for Requirements Validation
    Moketar, Nor Aiza ; Kamalrudin, Massila ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM 3rd International Workshop on Software Engineering Research and Industrial Practice (SER&IP), 2016-05-01, S. 39-45
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Understanding the Impact of Technical Debt in Coding and Testing: An Exploratory Case Study
    Abad, Zahra Shakeri Hossein ; Karimpour, Reza ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM 3rd International Workshop on Software Engineering Research and Industrial Practice (SER&IP), 2016-05-01, S. 25-31
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Learning Algorithm for Change Impact Prediction
    Musco, Vincenzo ; Carette, Antonin ; et al.
    In: 2016 IEEE/ACM 5th International Workshop on Realizing Artificial Intelligence Synergies in Software Engineering (RAISE), 2016-05-01, S. 8-14
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Experiences Conducting Experiments in Industry: The ESEIL FiDiPro Project
    Juristo, Natalia
    In: 2016 IEEE/ACM 4th International Workshop on Conducting Empirical Studies in Industry (CESI), 2016-05-01, S. 1-3
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Collaboration of Software Architect and Test Architect Helps to Systematically Bridge Product Lifecycle Gap
    Paulisch, Frances ; Zimmerer, Peter
    In: 2016 IEEE/ACM 1st International Workshop on Bringing Architectural Design Thinking Into Developers' Daily Activities (BRIDGE), 2016-05-01, S. 11-13
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Position Statement: VLSI - A Challenge for System Designers
    Roberts, M.B.
    In: 17th Design Automation Conference, 1980, S. 345-345
    Online Konferenz
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    Position Paper A CAD User's Perspective What Gets Done Right Wrong and Not at All
    Armstrong, R.A.
    In: 17th Design Automation Conference, 1980, S. 517-517
    Online Konferenz
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    Exploring ML testing in practice – Lessons learned from an interactive rapid review with Axis Communications
    Song, Qunying ; Borg, Markus ; et al.
    In: 2022 IEEE/ACM 1st International Conference on AI Engineering – Software Engineering for AI (CAIN), 2022-05-01, S. 10-21
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    Zugriff:
    Volltext
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