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    STSearch: State Tracing-based Search Heuristics for RTL Validation
    Zheng, Ziyue ; Lyu, Yangdi
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Scalable Scan-Chain-Based Extraction of Neural Network Models
    Jiang, Shui ; Potluri, Seetal ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    APUF Production Line Faults: Uniqueness and Testing
    Wei, Yeqi ; Rao, Wenjing ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Towards Automated Detection of Higher-Order Memory Corruption Vulnerabilities in Embedded Devices
    Yu, Lei ; Li, Linyu ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1707-1710
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    When Capacitors Attack: Formal Method Driven Design and Detection of Charge-Domain Trojans
    Guo, Xiaolong ; Zhu, Huifeng ; et al.
    In: 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019-03-01, S. 1727-1732
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Charka: A reliability-aware test scheme for diagnosis of channel shorts beyond mesh NoCs
    Bhowmik, Biswajit ; Deka, Jantindra Kumar ; et al.
    In: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017-03-01, S. 214-219
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Robust neuromorphic computing in the presence of process variation
    BanaGozar, Ali ; Maleki, Mohammad Ali ; et al.
    In: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017-03-01, S. 440-445
    Online Konferenz
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    Brisk and limited-impact NoC routing reconfiguration
    Lee, Doowon ; Parikh, Ritesh ; et al.
    In: 2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2014-03-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?

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