Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Mehr
308 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Publikation

Inhaltsanbieter

308 Treffer

Sortierung: 
  1. Bernstein, J.B. ; Gleason, E.F. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 176-181
    Online Konferenz
  2. Moll, F. ; Roca, M. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE 3rd Asian Test Symposium (ATS), 1994, S. 176-181
    Online Konferenz
  3. Renovell, M. ; Huc, P. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE 3rd Asian Test Symposium (ATS), 1994, S. 170-175
    Online Konferenz
  4. Kim, J.H. ; Rhee, P.K.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 75-84
    Online Konferenz
  5. Tewksbury, S.K. ; Hornak, L.A.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 135-144
    Online Konferenz
  6. Turner, R. ; Robinson, M. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 155-164
    Online Konferenz
  7. Jenevein, R.M. ; Campbell, J.C.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 182-191
    Online Konferenz
  8. Flack, W.W. ; Flores, G.E.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 4-13
    Online Konferenz
  9. Zhang, Y. ; Wang, C. J.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 65-74
    Online Konferenz
  10. Kuboschek, M. ; Iden, H. J. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 28-34
    Online Konferenz
  11. Hurt, P.R. ; Massaron, L.I. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 14-18
    Online Konferenz
  12. Jain, V.K. ; Hikawa, H. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 35-44
    Online Konferenz
  13. Yih, J.S. ; Mazumder, P.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 55-64
    Online Konferenz
  14. Gaedke, K. ; Jeschke, H. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 19-27
    Online Konferenz
  15. Mori, H. ; Kambara, J.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 85-94
    Online Konferenz
  16. Kim, J.H. ; Sung, H.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 331-340
    Online Konferenz
  17. Lea, R.M.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 95-104
    Online Konferenz
  18. Horiguchi, S. ; Zhang, X.X.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 45-54
    Online Konferenz
  19. Hedge, S.J. ; Jalowiecki, I.P. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 105-114
    Online Konferenz
  20. Jalowiecki, I.P. ; Reche, J.J. ; et al.
    In: [1992] Proceedings International Conference on Wafer Scale Integration, 1992, S. 124-133
    Online Konferenz

Weitere Bibliothekskataloge

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -