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    Modeling and Analysis of Cyber–Physical System Based on Object-Oriente Generalized Stochastic Petri Net.
    Hu, Haiyang ; Yu, Jiawei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 70 (2021-09-01), Heft 3, S. 1271-1285
    Online academicJournal
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    Tweedie Exponential Dispersion Processes for Degradation Modeling, Prognostic, and Accelerated Degradation Test Planning.
    Chen, Zhen ; Xia, Tangbin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-09-01), Heft 3, S. 887-902
    Online academicJournal
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    A Deductive Method for Diagnostic Analysis of Digital Instrumentation and Control Systems.
    Yang, Jun ; Aldemir, Tunc ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-12-01), Heft 4, S. 1442-1458
    Online academicJournal
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    Bayesian Analysis for Accelerated Life Tests Using a Dirichlet Process Weibull Mixture Model.
    Yuan, Tao ; Liu, Xi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 63 (2014-03-01), Heft 1, S. 58-67
    Online academicJournal
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    An Analytic Hierarchy Process-Based Risk Assessment Method for Wireless Networks.
    Tsai, Hsin-Yi ; Huang, Yu-Lun
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 60 (2011-12-01), Heft 4, S. 801-816
    Online academicJournal
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    Dynamic Hybrid Fault Modeling and Extended Evolutionary Game Theory for Reliability, Survivability and Fault Tolerance Analyses.
    Ma, Zhanshan ; Krings, Axel W.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 60 (2011-03-01), Heft 1, S. 180-196
    Online academicJournal
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