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    High-Level Synthesis versus Hardware Construction
    Kamkin, Alexander ; Chupilko, Mikhail ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    MIRROR: MaxImizing the Re-usability of RTL thrOugh RTL to C CompileR
    Rashid, Md Imtiaz ; Schafer, Benjamin Carrion
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Securing a RISC-V architecture: A dynamic approach
    Pillement, S. ; Real, M. Mendez ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CLAP: Locality Aware and Parallel Triangle Counting with Content Addressable Memory
    Fu, Tianyu ; Wei, Chiyue ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Benchmarking Large Language Models for Automated Verilog RTL Code Generation
    Thakur, Shailja ; Ahmad, Baleegh ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Run-time integrity monitoring of untrustworthy analog front-ends
    Salem, Heba ; Topham, Nigel
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    HUnTer: Hardware Underneath Trigger for Exploiting SoC-level Vulnerabilities
    Rajendran, Sree Ranjani ; Tarek, Shams ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Fault Model Analysis of DRAM under Electromagnetic Fault Injection Attack
    Liu, Qiang ; Guo, Longtao ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    PumpChannel: An Efficient and Secure Communication Channel for Trusted Execution Environment on ARM-FPGA Embedded SoC
    Ge, Jingquan ; Li, Yuekang ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ViX: Analysis-driven Compiler for Efficient Low-Precision Variational Inference
    Misra, Ashitabh ; Laurel, Jacob ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    SCI-FI: Control Signal, Code, and Control Flow Integrity against Fault Injection Attacks
    Chamelot, Thomas ; Courousse, Damien ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 556-559
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Polyglot Modal Models through Lingua Franca
    Schulz-Rosengarten, Alexander ; von Hanxleden, Reinhard ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Improving Design Understanding of Processors leveraging Datapath Clustering
    Ruep, Katharina ; Grobe, Daniel
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    DEL: Dynamic Symbolic Execution-based Lifter for Enhanced Low-Level Intermediate Representation
    Abdelmaksoud, Hany ; Hammadeh, Zain A. H. ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Lattice Quantization
    Metz, Clement ; Allenet, Thibault ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Structural Generation of Virtual Prototypes for Smart Sensor Development in SystemC-AMS from Simulink Models
    Kuster, Alexandra ; Dorsch, Rainer ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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