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  1. He, Song ; Li, Haoxin ; et al.
    In: 2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2023-09-27, S. 17-20
    Online Konferenz
  2. Tsai, Jung-Ruey ; Shih, Neng-Fu ; et al.
    In: 2015 20th Microoptics Conference (MOC), 2015-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  3. Minakawa, K. ; Hayashi, N. ; et al.
    In: Technical Digest of the Eighteenth Microoptics Conference, 2013-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  4. Thoti, Narasimhulu ; Li, Yiming ; et al.
    In: 2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020-09-23, S. 375-378
    Online Konferenz
  5. Bayle, Raphael ; Cueto, Olga ; et al.
    In: 2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020-09-23, S. 173-176
    Online Konferenz
  6. Gandus, Guido ; Lee, Youseung ; et al.
    In: 2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020-09-23, S. 177-180
    Online Konferenz
  7. Sant, Saurabh ; Luisier, Mathieu ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 17-20
    Online Konferenz
  8. Andermatt, Samuel ; Bani-Hashemian, Mohammad Hossein ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 177-180
    Online Konferenz
  9. Park, Hong-Hyun ; Jin, Seonghoon ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 173-176
    Online Konferenz
  10. Hu, Chia-Hua ; Ho, Wen-Jeng ; et al.
    In: 2015 20th Microoptics Conference (MOC), 2015-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  11. Kitano, T. ; Uddin, M.N. ; et al.
    In: 2015 20th Microoptics Conference (MOC), 2015-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  12. Wei, An-Chi ; Lo, Shih-Chieh ; et al.
    In: 2015 20th Microoptics Conference (MOC), 2015-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  13. Fu, Wai Yuen ; Cheung, Yuk Fai ; et al.
    In: 2015 20th Microoptics Conference (MOC), 2015-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  14. Ishihara, Hiroki ; Oda, Kenji ; et al.
    In: Technical Digest of the Eighteenth Microoptics Conference, 2013-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  15. Sorimoto, Keisuke ; Uetsuka, Hisato ; et al.
    In: Technical Digest of the Eighteenth Microoptics Conference, 2013-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz
  16. Rostand, N. ; Martinie, S. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 89-92
    Online Konferenz
  17. Ayres, A. ; Rozeau, O. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 149-152
    Online Konferenz
  18. Wakam, F. Tcheme ; Lacord, J. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 329-332
    Online Konferenz
  19. Bazizi, E. M. ; Zaka, A. ; et al.
    In: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017-09-01, S. 365-368
    Online Konferenz
  20. Uddin, Mohammad Nasir ; Kizu, Takaaki ; et al.
    In: Technical Digest of the Eighteenth Microoptics Conference, 2013-10-01, S. 1-2
    Online Konferenz

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