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    Fast evaluation of test vector sets using a simulation-based statistical metric
    Mirkhani, Shahrzad ; Abraham, Jacob A.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    TSV aware timing analysis and diagnosis in paths with multiple TSVs
    Metzler, C. ; Todri-Sanial, A. ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Improved power supply noise control for pseudo functional test
    Zhang, Tengteng ; Walker, Duncan M. Hank
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Innovative practices session 4C: Disruptive solutions in the non-digital world
    Majumdar, Amitava ; Natarajan, Suriya ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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