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    Research on Monocular Depth Estimation Method based on Multi-Level Attention and Feature Fusion
    Wu, Zhongyu ; Huang, Hua ; et al.
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 155-159
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Research on apple surface defect detection based on improved YOLOv8
    Yang, Hua ; Zhang, Haifeng ; et al.
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 1129-1133
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    A Multi-Scenario Traffic Classification Method Based on Pretrained Encoder and Text Convolutional Neural Network
    Zhou, Bolin ; Huang, Yongzhong
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 936-944
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Surface defect detection method for high-voltage cable joints based on improved YOLOv5s
    Shen, Zhengbin ; Liu, Guihua ; et al.
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 566-572
    Online Konferenz
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    3DSP-GAN: A 3D-to-3D Network for CT Reconstruction from Biplane X-rays
    Huang, Chun ; Li, Kunqi ; et al.
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 931-935
    Online Konferenz
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    A Dual-branch Model for Early Detection of Alzheimer’s Disease Using Resting-State fMRI
    Wang, Yixuan ; Li, Wei
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 499-504
    Online Konferenz
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    EANet: Enhanced Attention-based Model for Surface Defect Detection
    Liu, Gaokai
    In: 2024 IEEE 7th Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC), Jg. 7 (2024-03-15), S. 1641-1645
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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