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    Concurrent Path Selection Algorithm in Statistical Timing Analysis
    Chung, J. ; Abraham, J. A.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 21 (2013-09-01), Heft 9, S. 1715-1726
    Online academicJournal
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    Resolution of Diagnosis Based on Transition Faults
    Pomeranz, I. ; Reddy, S. M.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 20 (2012), Heft 1, S. 172-176
    Online academicJournal
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    Reducing the Storage Requirements of a Test Sequence by Using One or Two Background Vectors
    Pomeranz, I. ; Reddy, S. M.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 19 (2011-10-01), Heft 10, S. 1755-1764
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Effective Diagnostic Pattern Generation Strategy for Transition-Delay Faults in Full-Scan SOCs
    Appello, D. ; Bernardi, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 17 (2009-11-01), Heft 11, S. 1654-1659
    Online academicJournal
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    A Unified Detection Scheme for Crosstalk Effects in Interconnection Bus
    Li, K. S. M. ; Lee, C. L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 17 (2009-02-01), Heft 2, S. 306-311
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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