Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Mehr
36 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Verlag

Publikation

Inhaltsanbieter

36 Treffer

Sortierung: 
  1. Schindlbeck, Gunter
    In: 17th International Reliability Physics Symposium, 1979-04-01, S. 30
    Online Konferenz
  2. Cohen, Eliot D. ; Macpherson, Alan C.
    In: 17th International Reliability Physics Symposium, 1979-04-01, S. 156
    Online Konferenz
  3. Jordan, Thomas
    In: 2022 13th International Conference on Live Maintenance (ICOLIM), 2022-06-15, S. 1-5
    Online Konferenz
  4. Peter, Geno ; Stonier, Albert Alexander ; et al.
    In: 2022 2nd International Conference on Advance Computing and Innovative Technologies in Engineering (ICACITE), 2022-04-28, S. 1701-1704
    Online Konferenz
  5. Bespalov, Nikolai N. ; Kapitonov, Sergei S. ; et al.
    In: 2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus), 2018, S. 1702-1705
    Online Konferenz
  6. Hall, W.M. ; Pritchard, W.L.
    In: Proceedings of the IRE, Proc. IRE, Jg. 39 (1951-06-01), Heft 6, S. 680-684
    Online academicJournal
  7. Shaver, Clark D. ; Cain, Sean A.
    In: PCIC Europe 2010, 2010-06-01, S. 1-7
    Online Konferenz
  8. Levy, I.E.
    In: Proceedings of the IRE, Proc. IRE, Jg. 38 (1950-07-01), Heft 7, S. 774-776
    Online academicJournal
  9. Yu, Chuanzhao ; Yuan, J.S.
    In: 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd, 2005, S. 431-434
    Online Konferenz
  10. Hwang, Sang-Soo ; Lee, Hee-Chan ; et al.
    In: 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd, 2005, S. 474-477
    Online Konferenz
  11. Tokei, Z. ; Van Aelst, J. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd, 2005, S. 495-500
    Online Konferenz
  12. Joseph, T. ; Varn, K. ; et al.
    In: Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003, 2003, S. 183-186
    Online Konferenz
  13. Fridman, B.E. ; Rutberg, P.G.
    In: MELECON '98. 9th Mediterranean Electrotechnical Conference. Proceedings (Cat. No.98CH36056), Jg. 2 (1998), S. 978-982
    Online Konferenz
  14. Katsumata, M. ; Teramoto, A. ; et al.
    In: Proceedings of the 1997 6th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 1997, S. 152-155
    Online Konferenz
  15. Wang, S. ; Snyder, G.J. ; et al.
    In: Twenty-First International Conference on Thermoelectrics, 2002. Proceedings ICT, 2002, S. 170-172
    Online Konferenz
  16. Coffey, D. ; Jara-Almonte, J. ; et al.
    In: 1993 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1993, S. 171-176
    Online Konferenz
  17. McMahon, T.J.
    In: 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008-04-01, S. 172
    Online Konferenz
  18. Kumagai, J. ; Toita, K. ; et al.
    In: 28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium, 1990, S. 170-177
    Konferenz
  19. Wakai, N. ; Kobira, Y. ; et al.
    In: 2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2006-10-01, S. 171
    Online Konferenz
  20. Vashchenko, V.A. ; ter Beek, M.
    In: 2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd, 2005, S. 612-613
    Online Konferenz

Weitere Bibliothekskataloge

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -