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    Fast evaluation of test vector sets using a simulation-based statistical metric
    Mirkhani, Shahrzad ; Abraham, Jacob A.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Fault modeling and test algorithm creation strategy for FinFET-based memories
    Harutyunyan, G. ; Tshagharyan, G. ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Improving CMOS open defect coverage using hazard activated tests
    Han, Chao ; Singh, Adit D.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Testing methods for a write-assist disturbance-free dual-port SRAM
    Yang, Hao-Yu ; Lin, Chen-Wei ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Built-in self test methodology for diagnosis of backend wearout mechanisms in SRAM cells
    Kim, Woongrae ; Milor, Linda
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Test generation and design-for-testability for flow-based mVLSI microfluidic biochips
    Hu, Kai ; Ho, Tsung-Yi ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Structural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip
    Dalirsani, Atefe ; Imhof, Michael E. ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Fault tolerant nanoarray circuits: Automatic design and verification
    Ranone, P. ; Turvani, G. ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Identification of testable representative paths for low-cost verification of circuit performance during manufacturing and in-field tests
    Chen, Jifeng ; Winemberg, Le ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Power/ground supply voltage variation-aware delay test pattern generation
    Wang, Lu ; Wang, Xutao ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    An efficient diagnosis method to deal with multiple fault-pairs simultaneously using a single circuit model
    Wu, Cheng-Hung ; Lee, Kuen-Jong ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Functional block extraction for hardware security detection using time-integrated and time-resolved emission measurements
    Stellari, Franco ; Song, Peilin ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Active defense against counterfeiting attacks through robust antifuse-based on-chip locks
    Basak, Abhishek ; Zheng, Yu ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Auto-identification of positive feedback loops in multi-state vulnerable circuits
    Liu, Zhiqiang ; Li, You ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    On-chip voltage-droop prediction using support-vector machines
    Ye, Fangming ; Firouzi, Farshad ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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