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  1. Tokuno, Koichi ; Yamada, Shigeru
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 60 (2011-03-01), Heft 1, S. 171-179
    Online academicJournal
  2. Yeh, Wei-Chang
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-03-01), Heft 1, S. 308-315
    Online academicJournal
  3. Zaitseva, Elena ; Levashenko, Vitaly
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-12-01), Heft 4, S. 1710-1723
    Online academicJournal
  4. Liu, Yan ; Si, Shubin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 65 (2016-06-01), Heft 2, S. 662-673
    Online academicJournal
  5. Liu, Zhe ; Kang, Rui
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 71 (2022-06-01), Heft 2, S. 735-746
    Online academicJournal
  6. Liu, Zhe ; Yang, Shunkun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 71 (2022-06-01), Heft 2, S. 775-787
    Online academicJournal
  7. Luo, Xiangyu ; Liang, Sen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 71 (2022-06-01), Heft 2, S. 933-950
    Online academicJournal
  8. Zeng, Ju ; Zhang, Xiaopan
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 71 (2022-03-01), Heft 1, S. 139-148
    Online academicJournal
  9. Chen, Zhen ; Xia, Tangbin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 71 (2022-03-01), Heft 1, S. 47-62
    Online academicJournal
  10. Lin, Cheng-Kuan ; Teng, Yuan-Hsiang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-12-01), Heft 4, S. 800-810
    Online academicJournal
  11. Jayasinghe, Chathuri L. ; Zeephongsekul, Panlop
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-06-01), Heft 2, S. 317-328
    Online academicJournal
  12. Yaqub, M. F. ; Gondal, Iqbal ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-03-01), Heft 1, S. 171-182
    Online academicJournal
  13. Yevkin, Olexandr ; Krivtsov, Vasiliy
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 62 (2013-03-01), Heft 1, S. 82-91
    Online academicJournal
  14. Gupta, Ramesh C.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-12-01), Heft 4, S. 987-993
    Online academicJournal
  15. Hirose, Hideo ; Sakumura, Takenori
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-09-01), Heft 3, S. 625-633
    Online academicJournal
  16. Chen, Maoyin ; Xu, Cong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-06-01), Heft 2, S. 440-451
    Online academicJournal
  17. Dwyer, Vincent M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-03-01), Heft 1, S. 170-179
    Online academicJournal
  18. Yevkin, Olexandr ; Krivtsov, Vasiliy
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-03-01), Heft 1, S. 68-73
    Online academicJournal
  19. Peng, Hao ; Coit, David W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-03-01), Heft 1, S. 4-12
    Online academicJournal
  20. Fuqing, Yuan ; Kumar, Uday
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 61 (2012-03-01), Heft 1, S. 95-100
    Online academicJournal

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