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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-03-01), Heft 3, S. 387-390Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-12-01), Heft 12, S. 1758-1761Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-11-01), Heft 11, S. 1796-1799Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-05-01), Heft 5, S. 780-783Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), Heft 12, S. 1704-1704Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), Heft 12, S. 1720-1720Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-11-01), Heft 11, S. 1519-1521Online academicJournalZugriff:
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In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-10-01), Heft 10, S. 1361-1363Online academicJournalZugriff: