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  1. Monavarian, M. ; Pickrell, G. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-03-01), Heft 3, S. 387-390
    Online academicJournal
  2. Han, S. ; Song, J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 41 (2020-12-01), Heft 12, S. 1758-1761
    Online academicJournal
  3. Kim, K. ; Liu, D. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-11-01), Heft 11, S. 1796-1799
    Online academicJournal
  4. Zhang, B. ; Ji, D. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-05-01), Heft 5, S. 780-783
    Online academicJournal
  5. Ma, J. ; Zhu, M. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), Heft 12, S. 1704-1704
    Online academicJournal
  6. Mase, S. ; Hamada, T. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), Heft 12, S. 1720-1720
    Online academicJournal
  7. Lee, G. Y. ; Liu, H. H. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-11-01), Heft 11, S. 1519-1521
    Online academicJournal
  8. Ozbek, A. M. ; Baliga, B. J.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-10-01), Heft 10, S. 1361-1363
    Online academicJournal

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