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  1. Tsai, C. Y. ; Wu, T. L. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 33 (2012), Heft 1, S. 35-37
    Online academicJournal
  2. Ryu, K. K. ; Roberts, J. C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-07-01), Heft 7, S. 895-897
    Online academicJournal
  3. Minko, A. ; Hoel, V. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-04-01), Heft 4, S. 167-169
    Online academicJournal

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