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    Characterization of the electron mobility in the inverted Si surface
    Sabnis, A.G. ; Clemens, J.T.
    In: 1979 International Electron Devices Meeting, 1979, S. 18-21
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Ion-implanted depletion-mode IGFET
    Edwards, J.R. ; Marr, G.
    In: 1971 International Electron Devices Meeting, 1971, S. 156-156
    Konferenz
    Wie komme ich dran?

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