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  1. Sen, S. ; Capasso, F. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 9 (1988-10-01), Heft 10, S. 533-535
    Online academicJournal
  2. Krumm, J. ; Eckert, E. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 25 (2004-06-01), Heft 6, S. 399-401
    Online academicJournal
  3. Arai, K. ; Yamamoto, M.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 17 (1996-10-01), Heft 10, S. 491-493
    Online academicJournal
  4. Waho, T. ; Chen, K.J. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 17 (1996-05-01), Heft 5, S. 223-225
    Online academicJournal
  5. Chau, H. F. ; Beam, E.A., III
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 14 (1993-08-01), Heft 8, S. 388-390
    Online academicJournal
  6. Silard, A. ; Nani, G. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 9 (1988-04-01), Heft 4, S. 174-176
    Online academicJournal

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