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  1. Farooq, Qurat-ul-ann ; Iqbal, Muhammad Zohaib Z. ; et al.
    In: 2010 17th IEEE International Conference and Workshops on Engineering of Computer Based Systems, 2010-03-01, S. 41-49
    Online Konferenz
  2. AbouTrab, M. S. ; Counsell, S.
    In: 2010 17th IEEE International Conference and Workshops on Engineering of Computer Based Systems, 2010-03-01, S. 141-149
    Online Konferenz
  3. Lefevre, V.
    In: 17th IEEE Symposium on Computer Arithmetic (ARITH'05), 2005, S. 68-75
    Online Konferenz
  4. Yodaiken, V.
    In: 17th International Conference on VLSI, 2004, S. 249-252
    Online Konferenz
  5. Amory, A.M. ; Cota, E. ; et al.
    In: Proceedings. SBCCI 2004. 17th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (IEEE Cat. No.04TH8784), 2004, S. 111-116
    Online Konferenz
  6. Andrade, A., Jr. ; Cota, E. ; et al.
    In: Proceedings. SBCCI 2004. 17th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (IEEE Cat. No.04TH8784), 2004, S. 105-110
    Online Konferenz
  7. Zhao, Dan ; Upadhyaya, S.
    In: 17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002. DFT, 2002, S. 334-342
    Online Konferenz
  8. Viera, J.C. ; Gonzalez, M. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 3 (2000), S. 1372-1376
    Online Konferenz
  9. D'Antona, G. ; Di Rienzo, L. ; et al.
    In: Proceedings of the 17th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [Cat. No. 00CH37066], Jg. 2 (2000), S. 1077-1080
    Online Konferenz
  10. Zhang, Jinyan ; Huynh, S. ; et al.
    In: Proceedings 17th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.PR00146), 1999, S. 319-324
    Online Konferenz
  11. Zarrineh, K. ; Upadhyaya, S.J.
    In: Proceedings 17th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.PR00146), 1999, S. 391-396
    Online Konferenz
  12. Conte, G. ; Scaradozzi, D. ; et al.
    In: 2009 17th Mediterranean Conference on Control and Automation, 2009-06-01, S. 760
    Online Konferenz
  13. Lee, Deuk ; Natarajan, Vishwanath ; et al.
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 55
    Online Konferenz
  14. Keller, Brion ; Bhatia, Sandeep ; et al.
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 157
    Online Konferenz
  15. Lin, Jin-Fu ; Kung, Te-Chieh ; et al.
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 111
    Online Konferenz
  16. Huang, Yu-Jen ; Li, Jin-Fu
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 357
    Online Konferenz
  17. Hsu, Chun-Kai ; Denq, Li-Ming ; et al.
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 245
    Online Konferenz
  18. He, Zhiyuan ; Peng, Zebo ; et al.
    In: 2008 17th Asian Test Symposium, 2008-11-01, S. 283
    Online Konferenz
  19. Blumel, E.
    In: 2008 IEEE 17th Workshop on Enabling Technologies: Infrastructure for Collaborative Enterprises, 2008-06-01
    Online Konferenz
  20. Baekken, J.S. ; Alexander, R.T.
    In: 2006 17th International Symposium on Software Reliability Engineering, 2006-11-01, S. 169
    Online Konferenz

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