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    SMV methodology enhancements for high speed I/O links of SoCs
    Viveros-Wacher, Andres ; Alejos, Ricardo ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
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    A built-in gain calibration technique for RF low-noise amplifiers
    Wu, Ya-Ru ; Hsieh, Yi-Keng ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A 4-GHz universal high-frequency on-chip testing platform for IP validation
    Yang, Ping-Lin ; Lin, Cheng-Chung ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Test-time optimization in NOC-based manycore SOCs using multicast routing
    Agrawal, Mukesh ; Chakrabarty, Krishnendu
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Special session 8B — Panel: In-field testing of SoC devices: Which solutions by which players?
    Abraham, Jacob A. ; Gu, Xinli ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-2
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Innovative practices session 4C: Disruptive solutions in the non-digital world
    Majumdar, Amitava ; Natarajan, Suriya ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Innovative practices session 10C: Advances in DFT and compression
    Kapur, Rohit ; Pomeranz, Irith
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-1
    Online Konferenz
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    Hot topic session 12B: Stay relevant with standards-based DFT
    Clark, C J ; Champac, Victor
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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