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  1. Rzesnicki, T. ; Ioannidis, Z.C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-04-01), Heft 4, S. 623-626
    Online academicJournal
  2. Pagonakis, Ioannis Gr. ; Hogge, Jean-Philippe ; et al.
    In: 2009 34th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, 2009-09-01, S. 1
    Online Konferenz
  3. Litvak, A.G. ; Denisov, G.G. ; et al.
    In: 2009 IEEE International Vacuum Electronics Conference, 2009-04-01, S. 281
    Online Konferenz
  4. Usachev, S. V. ; Agapova, M. V. ; et al.
    In: 2007 Joint 32nd International Conference on Infrared and Millimeter Waves and the 15th International Conference on Terahertz Electronics, 2007-09-01, S. 44
    Online Konferenz
  5. Chen, S.C. ; Danly, B.G. ; et al.
    In: Proceedings Particle Accelerator Conference, Jg. 2 (1995), S. 893-895
    Online Konferenz
  6. Agapova, M.V. ; Denisov, G.G. ; et al.
    In: 2006 Joint 31st International Conference on Infrared Millimeter Waves and 14th International Conference on Teraherz Electronics, 2006-09-01, S. 516
    Online Konferenz
  7. Litvak, A.G. ; Myasnikov, V.E. ; et al.
    In: Infrared and Millimeter Waves, Conference Digest of the 2004 Joint 29th International Conference on 2004 and 12th International Conference on Terahertz Electronics,, 2004, S. 111-112
    Online Konferenz
  8. Myasnikov, V.E. ; Litvak, A.G. ; et al.
    In: Third IEEE International Vacuum Electronics Conference (IEEE Cat. No.02EX524), 2002, S. 334-335
    Online Konferenz
  9. Behr, S. ; Creedon, J. ; et al.
    In: Twentieth Conference Record on Power Modulator Symposium, 1992, S. 383-383
    Online Konferenz
  10. Badger, G.M.W.
    In: 1956 International Electron Devices Meeting, 1956, S. 32-32
    Konferenz
  11. Li, You ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010-07-01, S. 1-5
    Online Konferenz
  12. Han, Sang-Cheol ; Cho, Seong-Jun ; et al.
    In: 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010-07-01, S. 1-4
    Online Konferenz
  13. Schmidt, Christian ; Altmann, Frank ; et al.
    In: 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010-07-01, S. 1-5
    Online Konferenz
  14. Huo, Ming-xu ; Han, Yan ; et al.
    In: 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010-07-01, S. 1-8
    Online Konferenz
  15. Lu, Tiebing ; Zhao, Jie ; et al.
    In: 2006 17th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2006, S. 416-419
    Online Konferenz
  16. Yan-zhao, Xie ; Zan-ji, Wang ; et al.
    In: 2006 17th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2006, S. 614-617
    Online Konferenz
  17. Moreau, O. ; Kang, A. ; et al.
    In: The 17th Annual SEMI/IEEE ASMC 2006 Conference, Advanced Semiconductor Manufacturing, 2006, S. 334-339
    Online Konferenz
  18. Lerner, R. ; Eckoldt, U. ; et al.
    In: Proceedings. ISPSD '05. The 17th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs,, 2005, S. 135-138
    Online Konferenz
  19. Irace, A. ; Breglio, G. ; et al.
    In: Proceedings. ISPSD '05. The 17th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs,, 2005, S. 223-226
    Online Konferenz
  20. Zhu, Lin ; Li, Canhua ; et al.
    In: Proceedings. ISPSD '05. The 17th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs,, 2005, S. 283-286
    Online Konferenz

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