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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Residual Gas Analysis based on CNT-FED
    Wang, Jinchan ; Zhang, Xiaobing ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 455
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    The Optimization on Cathode Profiles for Screen Printing CNT-FEDs
    Zhang, Yuning ; Lei, Wei ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 463
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    Simulation Secondary Electron Emission of a Hopped FED
    Zhang, Lifang ; Zhang, Xiaobing ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 461
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    Preequilibrium Thermofield Microprotrusion as Effective Field Point Sorces of Electrons and Ions
    Golubev, O.L.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 473
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    Effects of Anode Locations on the Field Electron Emission from CNTs
    He, Chunshan ; Peng, Jie ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 471
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    A High Brightness Lighting Element using Carbon Nanotube Cathode
    Zhang, Yu ; Deng, S.Z. ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 481
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Instrumentation Developments in Atom Probe Tomography
    Bunton, J. H. ; Lenz, D. ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 497
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Failure Analysis of Local Electrodes
    Russell, K.F. ; Miller, M.K.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 503
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Advances in Specimen Preparation for Atom Probe Tomography
    Larson, D.J. ; Thompson, K. ; et al.
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 537
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    New Tomographic Atom Probe at University of Muenster, Germany
    Stender, Patrick ; Schmitz, Guido
    In: 2006 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2006-07-01, S. 539
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?

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