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  1. Wang, Xiaolin ; Zhou, Hang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-12-01), Heft 4, S. 1480-1492
    Online academicJournal
  2. Arnold, Richard ; Chukova, Stefanka ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-12-01), Heft 4, S. 1178-1194
    Online academicJournal
  3. Endharta, Alfonsus Julanto ; Ko, Young Myoung
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-12-01), Heft 4, S. 1465-1479
    Online academicJournal
  4. Ahadi, Khatereh ; Sullivan, Kelly M.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-09-01), Heft 3, S. 1147-1164
    Online academicJournal
  5. Hamoud, Gomaa Ahmed ; Faried, Sherif O.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-09-01), Heft 3, S. 925-936
    Online academicJournal
  6. Huang, Xianzhen ; Coolen, Frank P. A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-06-01), Heft 2, S. 522-532
    Online academicJournal
  7. Doyen, Laurent ; Drouilhet, Remy ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-06-01), Heft 2, S. 816-832
    Online academicJournal
  8. Xiao, Guanping ; Zheng, Zheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 69 (2020-06-01), Heft 2, S. 558-570
    Online academicJournal
  9. Xiao, Guanping ; Zheng, Zheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-12-01), Heft 4, S. 1356-1383
    Online academicJournal
  10. Zhu, Zhicheng ; Xiang, Yisha ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-09-01), Heft 3, S. 1009-1020
    Online academicJournal
  11. Cavalcante, Cristiano A. V. ; Scarf, Philip A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-06-01), Heft 2, S. 764-775
    Online academicJournal
  12. Assadi, Morteza ; Mobin, Mohammadsadegh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-06-01), Heft 2, S. 678-688
    Online academicJournal
  13. Wang, Lei ; Ren, Qiang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-06-01), Heft 2, S. 496-513
    Online academicJournal
  14. Arslan, Suayb S.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 133-148
    Online academicJournal
  15. Machado de Assis, Edilson ; Lima, Gabriel A. Costa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 122-132
    Online academicJournal
  16. Lee, Ingeol ; Cheong, Minho ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 68 (2019-03-01), Heft 1, S. 237-247
    Online academicJournal
  17. Van Acker, Tom ; Van Hertem, Dirk
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-12-01), Heft 4, S. 1459-1467
    Online academicJournal
  18. E, Mingcheng ; Li, Bing ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-12-01), Heft 4, S. 1468-1481
    Online academicJournal
  19. Si, Wujun ; Yang, Qingyu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-09-01), Heft 3, S. 1043-1059
    Online academicJournal
  20. Yang, Jialin ; Jiang, Bo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 67 (2018-09-01), Heft 3, S. 786-801
    Online academicJournal

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