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  1. Liang, Y.C. ; Gan, K.P. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 22 (2001-08-01), Heft 8, S. 407-409
    Online academicJournal
  2. Huang, J.J. ; Hattendorf, M. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 22 (2001-04-01), Heft 4, S. 157-159
    Online academicJournal
  3. Xu, Shuming ; Kian Paau Can ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 21 (2000-04-01), Heft 4, S. 176-178
    Online academicJournal
  4. Jatal, W. ; Baumann, U. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-02-01), Heft 2, S. 123-123
    Online academicJournal
  5. Marti, D. ; Tirelli, S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015), Heft 1, S. 17-17
    Online academicJournal
  6. Aktas, O. ; Fan, Z.F. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 18 (1997-06-01), Heft 6, S. 293-295
    Online academicJournal
  7. Wu, Y. F. ; Keller, B.P. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 17 (1996-09-01), Heft 9, S. 455-457
    Online academicJournal
  8. Khan, M.A. ; Chen, Q. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 17 (1996-07-01), Heft 7, S. 325-327
    Online academicJournal
  9. Tsai, S. ; Hsu, H. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 35 (2014-07-01), Heft 7, S. 735-735
    Online academicJournal
  10. Asif Khan, M. ; Chen, Q. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 17 (1996-12-01), Heft 12, S. 584-585
    Online academicJournal

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