Investigating the Impact of Signal Resolution on Machine Learning Based Multi-Class Fault Detection

Akin, Vehbi ; Mete, Mutlu

In: IEEE 17th Dallas Circuits and Systems Conference (DCAS); (2024-04-19) S. 1-4

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Titel:	Investigating the Impact of Signal Resolution on Machine Learning Based Multi-Class Fault Detection
Autor/in / Beteiligte Person:	Akin, Vehbi ; Mete, Mutlu
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Quelle:	IEEE 17th Dallas Circuits and Systems Conference (DCAS); (2024-04-19) S. 1-4
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-4953-5 (print)
ISSN:	2766-5186 (print)
DOI:	10.1109/DCAS61159.2024.10539911
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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