Exploiting Memory Soft Redundancy for Joint Improvement of Error Tolerance and Access Efficiency

Wang, S. ; Wang, L.

In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 17 (2009-08-01), Heft 8, S. 973-982

Online academicJournal

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Titel:	Exploiting Memory Soft Redundancy for Joint Improvement of Error Tolerance and Access Efficiency
Autor/in / Beteiligte Person:	Wang, S. ; Wang, L.
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 17 (2009-08-01), Heft 8, S. 973-982
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1063-8210 (print) ; 1557-9999 (print)
DOI:	10.1109/TVLSI.2008.2001743
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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