On the accuracy of de-embedding technologies for on-wafer measurement up to 170GHz

Zhang, Bo ; Xiong, Yong-Zhong ; et al.

In: IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT); (2009-12-01) S. 284-287

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Titel:	On the accuracy of de-embedding technologies for on-wafer measurement up to 170GHz
Autor/in / Beteiligte Person:	Zhang, Bo ; Xiong, Yong-Zhong ; Wang, Lei ; Teck-Guan, Lim ; Zhuang, Yi-Qi ; Li, Le-Wei ; Yuan, Xiaojun
Link:	Volltext
Quelle:	IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT); (2009-12-01) S. 284-287
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4244-5031-2 (print) ; 978-1-4244-5032-9 (print)
DOI:	10.1109/RFIT.2009.5383696
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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